OnTheFly计算机断层扫描技术大幅降低测量周期

  • 发布:2017/11/23 9:04:45
  • 来源:中塑在线原创

计算机断层扫描(CT)是一种已经验证的技术,它可以完全捕获工件,包括切口和内部几何体,并提高测量精度。然而,从历史上来看,在制造过程中,CT的测量操作太过于慢了。

总部位于德国吉森的Werth公司已经引进了一种新技术,能够提高周期速度。新型OnTheFly CT技术(专利申请中)通过不断地旋转机床中心线,来消除由于工件起止定位而引起的延迟时间。

在传统的起止操作中,为了捕捉每一个射线图像,旋转运动会被中断,这样在连续曝光的情况下就不会出现运动模糊。OnTheFly CT使用短曝光时间来最小化运动模糊。为取得与起止操作相同的测量确定性,旋转增数的数量得到了增长。尽管大大加快了测量过程,但VDI/VDE的规格没有受到影响。

在使用新型OnTheFly的过程中,测量时间能降低到原来的十分之一,而不会影响数据质量。工件体积能实时重建,在测量后能立即可用。或者,在相同的测量时间内,数据质量可能会升高。如使用光栅和感兴趣区域(region of interest)断层摄影术,或更高的检测器分辨率的方法,可以生产出具有更好信噪比的高分辨率工件。传统上与这些方法相关的增加的测量时间,可通过OnTheFly CT来避免。这项新技术为计算机断层扫描打开了进一步的应用领域,对于给定的数据质量有着严格的测量时间要求。

关键词:

计算机断层扫描技术

[责任编辑:朱丹丹]

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